E-T探测器（ETD），由埃弗哈特（Everhart）、索恩利（Thornley）两位科学家设计发明，以发明家名字命名，是一种重要的二次电子探测器，探测入射电子与样品相互作用产生的低能量电子，从材料来看其属于闪烁体-光电倍增管探测器，主要用于扫描电子显微镜（扫描电镜，SEM）中。
　　20世纪50年代，扫描电镜首次采用光电倍增管来收集二次电子，但二次电子收集效率低，图像信噪比低。20世纪60年代，埃弗哈特、索恩利在前者的基础上进行改进，使二次电子先通过闪烁体再通过光电倍增管，显著提高了二次电子的收集效率，提高了图像信噪比。
　　扫描电镜通常需要探测二次电子（SE）、背散射电子（BSE）两种信号，二次电子是入射电子与样品表面最浅处相互作用，发生非弹性散射产生的低能量电子，可以反映样品表面形貌细节。E-T探测器通常探测二次电子，但也可以探测背散射电子，其探测的信号成分较为复杂。
　　E-T探测器的工作原理是，样品表面产生二次电子后发射，经正电场加速后，先到达闪烁体，闪烁体将其转换为光信号，输送给光电倍增管，光电倍增管将光信号放大，再转换为电信号，传输给计算机处理获得图像。
　　E-T探测器具有信号收集效率高、探测速度快的优点，装配于样品台一侧，属于旁置式探测器，主要收集低角度电子信号，适合观察立体感强的样品，是扫描电镜中必须配置的二次电子探测器。E-T探测器是二次电子探测器产品中最常见类型，通常所说的二次电子探测器即E-T探测器。
　　扫描电镜具有分辨率高、成像速度快、无损检测、适用对象范围广等优点，被广泛应用在生命科学、临床医学、材料科学、地质科学、检验检测等领域，需求持续增长。2023年，全球扫描电镜市场规模达到36.6亿美元。E-T探测器作为扫描电镜的标配探测器，需求将随着扫描电镜市场扩大而不断上升。
   电子显微镜正在向高分辨率方向发展，场发射扫描电镜（FESEM）成为扫描电镜发展趋势，可以在纳米尺度上分析样品表面形貌。为了满足高分辨率要求，场发射扫描电镜除了需要配置E-T探测器外，还需要配置镜筒内/物镜内二次电子探测器，以及电子背散射衍射（EBSD）探测器等。未来，E-T探测器将配合其他探测器共同使用。